x射線檢測(cè)使用x射線(也包括γ射線)射線或其他高能射線可以穿透金屬材料的方法，由于材料對(duì)射線的不同吸收和散射作用，薄膜的靈敏度也有所不同。因此，提出了一種通過在負(fù)片上形成不同黑度的圖像來(lái)確定材料內(nèi)部缺陷的檢測(cè)方法。射線照相是一種根據(jù)被檢工件和內(nèi)部缺陷介質(zhì)的射線能量衰減，通過改變穿過工件的射線強(qiáng)度來(lái)顯示工件上缺陷的方法。射線照相膠片。

當(dāng)x射線檢測(cè)發(fā)生器發(fā)射的x射線穿過工件時(shí)，缺陷內(nèi)部介質(zhì)的吸收能力與周圍完整部分不同，因此通過缺陷透射的射線強(qiáng)度與周圍完整部分不同。將薄膜放置在工件上的正確位置。在感光膠片上，有缺陷和無(wú)缺陷的部分將暴露在不同的光照條件下。在暗室進(jìn)一步處理后，獲得負(fù)片。

然后將負(fù)片放在膠片觀看者上，清楚地觀察到缺陷和非缺陷有不同的黑度水平。法官可以據(jù)此判斷缺陷情況。熒光屏觀察法是用不同強(qiáng)度的輻射照射物體，并在覆蓋熒光粉的熒光屏上激發(fā)不同強(qiáng)度的熒光，從而獲得物體內(nèi)部圖像的方法。本方法使用的設(shè)備主要由x射線發(fā)生器及其控制設(shè)備、熒光屏觀察記錄輔助設(shè)備、工件保護(hù)和轉(zhuǎn)移設(shè)備組成。在檢測(cè)過程中，工件被送入觀察箱。

探傷儀的x射線檢測(cè)管發(fā)出的光穿過被檢工件，落在工件旁邊的熒光屏上。被反射的缺陷圖像被一個(gè)平面鏡反射并通過與該平面鏡平行的導(dǎo)線。玻璃觀察。熒光屏觀察法只能檢測(cè)薄而簡(jiǎn)單的工件，靈敏度較差。靈敏度高，范圍從2%到3%。在大量檢測(cè)中，靈敏度僅為4% ~ 7%。小裂縫是不可能檢測(cè)出來(lái)的。